工作中，結識了幾位測試的好友，在可靠性工作中對測試也有了更多的瞭解，進一步體會到測試對失效定位大有助益。

我們知道ATE測試有連線性測試、DC測試、AD/DA測試、trim測試、功能測試等。根據測試項的pass/fail，結合具體測試項對應電源、管腳DC檢測、邏輯電路、PHY檢測、IP檢測、IO檢測等，我們可以大概推測某個模組的失效。

如果連線性測試或引數測試，我們可以根據log看漏電電流是否偏大，電阻或電壓是否異常。如果是功能測試失效，一般比較難確定失效原因，此時我們可以透過兩種方法：（1）掃shmoo，（2）用fail cycle定位失效管腳。

Shmoo圖分析是一種有效的特性分析方法，它一般透過考察電源電壓、頻率、DC引數、AC引數之間的數值曲線關係，判斷器件是完全失效還是有一定的測試條件依賴性的部分失效，比如在某些電壓或者頻率範圍內，器件有pass的區間，我們也常稱為pass window。

例如下圖是電壓和頻率的shmoo window，我們發現在pass window中有零散失效點，一般稱為holes，這些異常就是需要關注並和design討論的，進一步確認可能為測試中timing沿設定問題，還是工藝缺陷等。

shmoo可以給我們器件工作引數margin的參考，因此在對工藝correlation分析、確定Vmin等極限工作條件中也有很大作用。

Fail cycle抓取是定位向量出現的異常cycle和對應的pin腳，請DFT同事去進行反推，確認失效可能的物理位置，再進一步安排失效分析。如下圖，在70085行，輸出pin中PMU_PWM1本來應該輸出L，卻錯誤得到H， error map中被抓到。

分享一個TCT失效的案例給大家，完成TCT 500cycles的實驗後，封裝廠測FT發現測試不良，表現為scan、VOH、VOL等，比較分散。從測試資料來看，沒有leakage失效，直接從確認IV的角度來定位異常比較困難。

接到case後，先常規做了下SAT和Xray，都沒有看到比較明顯不良。在測試fail cycle抓取中，獲得了失效pin。針對這些pin，去切cross section，看到一焊點與pad的結合面有crack異常，最後跟封裝廠重新調整打線引數改善了異常問題。